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2025-03-21
+2024-11-13
+2024-10-23
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GWTF-300高溫鐵電材料性能測(cè)試系統(tǒng)是一套建立在高溫高壓下的鐵電測(cè)量系統(tǒng)，旨在針對(duì)一些特殊的要求材料需要在高溫下測(cè)量而研發(fā)的一套鐵電測(cè)量系統(tǒng)。該系統(tǒng)不僅僅在溫度上將實(shí)現(xiàn)了高溫測(cè)試，而且在電壓和頻率上進(jìn)行了提高，對(duì)我們的鐵電材料研究和測(cè)試帶來(lái)更加重要的幫助。該系統(tǒng)可以測(cè)量鐵電材料的電滯回線，飽和極化Ps、剩余極化Pr、矯頑場(chǎng)Ec、漏電流、疲勞、保持、I-V和開(kāi)關(guān)特性等性能的測(cè)試。
GWST-1000型高溫四探針綜合測(cè)試系統(tǒng)（包含薄膜，塊體功能）是為了更方便的研究在高溫條件下的半導(dǎo)體的導(dǎo)電性能，該系統(tǒng)可以*實(shí)現(xiàn)在高溫、真空及惰性氣氛條件下測(cè)量硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率和外延層、擴(kuò)散層和離子層的方塊電阻及測(cè)量其他方塊電阻。
HTRS-1000型高溫半導(dǎo)體材料電阻率測(cè)試儀主要用于半導(dǎo)體材料導(dǎo)電性能的評(píng)估和測(cè)試，該系統(tǒng)采用四線電阻法測(cè)量原理進(jìn)行設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)，可以在高溫、真空氣氛的條件下測(cè)量半導(dǎo)體材料電阻和電阻率，可以分析被測(cè)樣品電阻和電阻率隨溫度、時(shí)間變化的曲線。目前主要針對(duì)圓片、方塊、長(zhǎng)條等測(cè)試樣品進(jìn)行測(cè)試，可以廣泛用于半導(dǎo)體材料硅（si）、鍺（ge）,化合物半導(dǎo)體材料砷化鎵（GaAs）、銻化銦（InSb），三元化合物半導(dǎo)
PRPM-1000熱釋電系數(shù)高溫測(cè)試系統(tǒng) 關(guān)鍵詞：熱釋電，激光，紅外 熱釋電材料目前主要用于紅外、激光等熱釋電探測(cè)領(lǐng)域,也廣泛地使用在各類輻射計(jì),光譜儀,以及紅外、激光探測(cè)器等方面。而熱釋電系數(shù)是測(cè)定紅外探測(cè)器工作特性的主要參數(shù)之一。PRPM-1000熱釋電系數(shù)高溫測(cè)試系統(tǒng)采用高精度進(jìn)口的設(shè)備采集分析數(shù)據(jù)，對(duì)熱釋電系數(shù)能夠準(zhǔn)確的測(cè)試.
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