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2024-11-05
+2016-07-08
+2023-08-25
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HTIM-1001型高溫絕緣電阻測(cè)試儀根據(jù)歐姆定律，被測(cè)電阻Rx等于施加電壓V除以通過的電流I。傳統(tǒng)的高阻計(jì)的工作原理是測(cè)量電壓V固定，通過測(cè)量流過取樣電阻的電流I來(lái)得到電阻值。從歐姆定律可以看出，由于電流I是與電阻成反比，而不是成正比，所以電阻的顯示值是非線性的，即電阻無(wú)窮大時(shí)，電流為零，即表頭的零位處是∞，其附近的刻度非常密，分辨率很低。整個(gè)刻度是非線性的。又由于測(cè)量不同的電阻時(shí)，其電壓V也
HTIM-1600超高溫絕緣電阻測(cè)試儀采用使用方法多樣化，最大2000V，最快6.4ms的采集系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)了是以往產(chǎn)品300倍的抗干擾功能最快6.4ms的高速測(cè)量，作為皮安表使用進(jìn)行低電容檢查，最高2×10^19 Ω顯示，最小0.1fA分辨率標(biāo)配EXT I/O, RS-232C, GP-IB, USB，自行設(shè)計(jì)的懸浮式電路，能不受測(cè)量環(huán)境影響進(jìn)行穩(wěn)定測(cè)量，并且運(yùn)用在產(chǎn)線中實(shí)現(xiàn)高速測(cè)量?？蓪?shí)現(xiàn)絕緣材料
HTRC-800型高溫導(dǎo)電材料電阻率測(cè)試系統(tǒng)是一款用于測(cè)量材料電阻，電導(dǎo)率的專用設(shè)備，采用由四端測(cè)量方法測(cè)試電阻率系統(tǒng)與高溫試驗(yàn)箱為一體的專用的高溫測(cè)試系統(tǒng)，滿足半導(dǎo)體及導(dǎo)體材料因溫度變化對(duì)電阻值變化的 測(cè)量要求，通以在高溫 、真空、氣氛的條件下測(cè)量導(dǎo)電材料電阻和電阻率，可以分析被測(cè)樣的電阻和電阻率隨溫度、 時(shí)間變化的曲 線． 目前主要針對(duì)圓片、方塊、長(zhǎng)條等樣品進(jìn)行測(cè)試，可以廣泛用于碳
PRTS-4A全自動(dòng)掃描四探針測(cè)試系統(tǒng)通過采用四探針雙位組合測(cè)量技術(shù)，將范德堡測(cè)量方法推廣應(yīng)用到直線四探針上。利用電流探針和電壓探針的組合變換，進(jìn)行兩次電測(cè)量，其最后計(jì)算結(jié)果能自動(dòng)消除由樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素所引起的，對(duì)測(cè)量結(jié)果的不利影響。因而在測(cè)試過程中，在滿足基本條件下可以不考慮探針間距、樣品尺寸及探針在樣品表面上的位置等因素。這種動(dòng)態(tài)地對(duì)以上不利因素的自動(dòng)修正，
JKZC-YDZK50M型1000℃高溫精密阻抗分析儀是一款兼容高溫功能的精密阻抗分析儀，是一款能夠應(yīng)用于*材料測(cè)試的多功能復(fù)合型精密阻抗分析儀，該阻抗分析儀可以兼容多種高溫夾具，可以測(cè)試粉末，液體，塊體等多種不同類型的樣品。常溫下測(cè)試數(shù)據(jù)豐富，高溫下測(cè)試數(shù)據(jù)穩(wěn)定，無(wú)漂移。是一款兼顧中頻率的精密阻抗分析儀。在陶瓷及*材料生產(chǎn)中和科研院校廣泛使用。
JKZC-HRE01型絕緣材料體電阻和表面電阻超高阻測(cè)試儀是一款即可測(cè)試絕緣材料超高阻，又可以測(cè)試微電流的精密測(cè)量裝置，用了大規(guī)模集成電路,使儀器體積小、重量輕、準(zhǔn)確度高。能夠直接顯示電阻的高阻計(jì)和電流值，量限從0.01×104Ω ～1×1018 Ω，電流測(cè)量范圍為2×10-4 ～1×10-16Ａ。機(jī)內(nèi)測(cè)試電壓為10/50/100/250/500/1000V任意可調(diào)。本儀器具有精度高、顯示迅速、性
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