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B2912A-16T型多通道高低溫電阻I/V（電流 vs 電壓）測(cè)試系統(tǒng)是一款針對(duì)特殊樣品多路電極測(cè)試的系統(tǒng)，解決了同一個(gè)樣品面對(duì)點(diǎn)I/V（電流 vs 電壓），配備了高低溫樣品測(cè)試臺(tái)，16通道并行I-V掃描自動(dòng)切換通道，無需人工干預(yù)，使測(cè)試變得更加方便，快捷。在新材料，復(fù)雜材料測(cè)試和研究重要設(shè)備.

SCD-1500型半導(dǎo)體C-V特性分析儀創(chuàng)新性地采用了雙CPU架構(gòu)、Linux底層系統(tǒng)、10.1英寸電容式觸摸屏、中英文操作界面、內(nèi)置使用說明及幫助等新一代技術(shù)，適用于生產(chǎn)線快速分選、自動(dòng)化集成測(cè)試及滿足實(shí)驗(yàn)室研發(fā)及分析。半導(dǎo)體C-V特性分析儀測(cè)試頻率為10kHz-2MHz，VGS電壓可達(dá)±40V，足以滿足二極管、三極管、MOS管及IGBT等半導(dǎo)體件CV特性測(cè)試分析。